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Prozessnahe Röntgenanalytik - PRORA

21.11.2005 - (idw) Optec-Berlin-Brandenburg e.V.

Modernste röntgenanalytische Verfahren und Laborgeräte locken
130 Teilnehmer zur Indsutrieausstellung und Fachtagung

Die Fachtagung PRORA "Prozessnahe Röntgenanalytik" findet am 24. und 25.11. 2005 statt. Ort: WISTA, Rudower Chaussee 17, 12489 Berlin, Beginn: 10:00

Diese im Jahre 2001 etablierte Tagungsreihe wird im Zweijahresrhythmus durchgeführt und ist modernen Entwicklungen auf dem Gebiet der Prozessanalytik mit Hilfe von Röntgenstrahlung gewidmet. Vorgestellt werden industrielle Einsatzmöglichkeiten von mobilen Röntgenanalytikgeräten sowie Verfahren zur Überwachung von technologischen Prozessen.

Es erfolgt ein Erfahrungsaustausch zwischen Anwendern, Entwicklern und Herstellern von Analytikgeräten. Die Veranstalter erwarten ca. 130 Teilnehmer aus dem In- und Ausland. Eine Industrieausstellung und ein Workshop begleiten die Fachtagung.

IfG und IAP sind für die Organisation der Tagung und die begleitende Geräte- und Posterausstellung zuständig.
Kontakt:
Dr. Reiner Wedell, Institut für angewandte Photonik e.V.
Rudower Chaussee 29
12489 Berlin

Telefon:(030) 6392 6503
Telefax:(030) 6392 6501
E-Mail: wedell-iap@ifg-adlershof.de
http://www.ifg-adlershof.de Die Fachtagung PRORA "Prozessnahe Röntgenanalytik" findet am 24. und 25. November 2005 am Wissenschafts- und Wirtschaftsstandort Berlin Adlershof zum dritten Mal statt. Sie wird im Einstein- und Newton-Kabinett in der WISTA (Rudower Chaussee 17, 12489 Berlin) am ersten Tag von Professor Norbert Langhoff, Geschäftsführer des IfG Institute for Scientific Instruments GmbH, und Dr. Bernd Weidner, Geschäftsführer des Optec-Berlin-Brandenburg (OpTecBB) e. V. um 10.00 Uhr eröffnet.

Diese im Jahre 2001 etablierte Tagungsreihe wird im Zweijahresrhythmus durchgeführt und ist modernen Entwicklungen auf dem Gebiet der Prozessanalytik mit Hilfe von Röntgenstrahlung gewidmet. Neben den bereits auf den ersten beiden Tagungen behandelten industriellen Einsatzmöglichkeiten von mobilen Röntgenanalytikgeräten soll in diesem Jahr auch die Kombination verschiedener analytischer Verfahren zur Überwachung von technologischen Prozessen diskutiert werden.

Ein generelles Anliegen der Fachtagung "Prozessnahe Röntgenanalytik" ist es, den Erfahrungsaustausch zwischen Anwendern, Entwicklern und Herstellern von Analytikgeräten zu fördern. Auf den ersten beiden Tagungen in den Jahren 2001 und 2003 waren jeweils mehr als 100 Teilnehmer aus Industrie, Forschungseinrichtungen und Universitäten des In- und Auslandes mit eigenen Beiträgen vertreten. Außerdem beteiligten sich an der begleitenden Industrieausstellung jeweils mehr als 10 Herstellerfirmen, zu denen neben kleineren Unternehmen auch solche bekannten international tätigen Firmen wie PANalytical B. V., Almelo, Niederlande, SPECTRO Analytical Instruments GmbH & Co. KG, Kleve und RÖN-TEC AG, Berlin gehörten.

Zur 3. Tagung werden ca. 130 Teilnehmer erwartet, auf der Industrieausstellung werden 17 Firmen ihre Produkte zeigen. Neben den früher bereits vertretenen Unternehmen ist ins-besondere die Teilnahme der Bruker AXS GmbH, Karlsruhe, zu erwähnen die als international führender Anbieter von Röntgenanalysegeräten kürzlich die RÖNTEC AG erworben hat. Die ehemalige RÖNTEC AG wird nun als Tochterunternehmen von Bruker unter dem neuen Namen Bruker AXS Microanalysis GmbH Berlin ausstellen. Neue Aussteller sind u. a. auch Oxford Instruments GmbH, Helmut Fischer GmbH & Co. KG, sowie die EFG GmbH Berlin, die den japanischen Marktführer Rigaku vertritt.

Die Tagungen haben gezeigt, dass das Interesse an kompakten, transportablen Röntgengeräten eindeutig gewachsen ist. Immer mehr Anwender möchten deartige Geräte nutzen, die Hersteller folgen dieser Nachfrage durch Neuentwicklungen. Generell hat sich der Trend zur On- und Inline-Analytik bestätigt. Dabei werden immer mehr spezifisch angepasste Lösungen für verschiedene technologische Anforderungen nachgefragt. Diese lassen sich nur durch einen modularen Aufbau von Röntgenanalysegeräten erzielen.

Neben dem Interesse an Laborgeräten spielt auch die Weiterentwicklung der röntgenanalytischen Verfahren und die die Kalibrierung von Quellen und Detektoren zur Sicherung verlässlicher Messergebnisse eine wichtige Rolle in der industriellen Prozessanalytik. Diese Fragestellungen können häufig nur durch die gezielte Nutzung von Synchrotronstrahlungsquellen beantwortet werden. Weiterhin ist ein Trend zur Kombination verschiedener analytischer Verfahren zur Überwachung von technologischen Prozessen zu beobachten, dem auch durch das Vortragsprogramm Rechnung getragen wird.

Zu den Veranstaltern der Tagung gehören der VDI/VDE, Optec-Berlin-Brandenburg (OpTecBB) e. V., das Fraunhofer Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration, die Technologiestiftung Berlin, die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, die Physikalisch-Technische Bundesanstalt, die TU Berlin, die European X-Ray Spectrometry Association sowie das IfG Institute for Scientific Instruments GmbH und das Institut für angewandte Photonik e. V. IAP).

IfG und IAP sind für die Organisation der Tagung und der begleitenden Geräte- und Posterausstellung zuständig.

Bei den vergangenen Fachtagungen wurde von einer Reihe von Teilnehmern der Wunsch nach zusätzlichen Diskussionsmöglichkeiten aktueller Entwicklungen im Rahmen eines begleitenden Workshop geäußert, da die eigentliche Tagung dafür wegen des immer sehr umfangreichen Vortragsprogramms zu wenig Zeit ließ. Da einige Mitglieder des Programmkomitees Herausgeber eines "Handbook of practical XRF" sind, das im März 2006 beim Springer-Verlag erscheinen wird, konnten renommierte Autoren dieses Buches gewonnen werden, bei einem sich direkt an die PRORA anschließenden Satellite Workshop entsprechende Themenblöcke zu gestalten. Dieser Satellite Workshop zum Thema "Aktuelle Fra-gen der Röntgenanalytik - Quo vadis XRF ?" findet am 26. November 2005 im großen Hörsaal bei BESSY, Albert-Einstein-Str. 15, 12489 Berlin-Adlershof 9.30 bis 17.00 Uhr statt.

Weitere Informationen: http://www.optecbb.de http://www.ifg-adlershof.de
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