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GhK auf Hannover Messe

08.04.1999 - (idw) Universität Kassel

Auch in diesem Jahr beteiligt sich die Universität Gesamthochschule Kassel (GhK) an der Hannover Messe, die vom 19. bis 24. April stattfindet. Vier Aussteller der GhK werden sich im Rahmen des Gemeinschaftsstands der Hessischen Hochschulen in der Halle 18 auf Stand O 05 präsentieren.
Dabei werden eine photovoltaisch versorgte Außenleuchte (Institut für elektrische Energietechnik, Prof. Dr.-Ing. Jürgen Schmid) und ein Fahrverhaltens-Klassifikations-System (Institut für Arbeitswissenschaft, PD Dr. Peter Kiegeland) vorgestellt. Die Experimentalphysik (Prof. Dr. Klaus Röll und Mitarbeiter) präsentiert ein magneto-optisches Datenspeicherungsverfahren sowie ein Interferometrisches Meßsystem für mechanische Spannungen in dünnen Schichten.

Kassel. Auch in diesem Jahr beteiligt sich die Universität Gesamthochschule Kassel (GhK) an der Hannover Messe, die vom 19. bis 24. April stattfindet. Vier Aussteller der GhK werden sich im Rahmen des Gemeinschaftsstands der Hessischen Hochschulen in der Halle 18 auf Stand O 05 präsentieren.

Das Institut für elektrische Energietechnik unter der Leitung von Prof. Dr.-Ing. Jürgen Schmid stellt eine photovoltaisch versorgte Außenleuchte vor, die in Kooperation mit der Firma Solare Beleuchtungssysteme GbR (ansässig in Fuldabrück und eine Ausgründung aus der GhK) entwickelt wurde. Diese Leuchte - sie kann wahlweise netzgekoppelt oder autark betrieben werden - zeichnet sich neben ihrem modernen Design vor allen Dingen durch optimale Anpassungsfähigkeit aus: Das am Institut entwickelte Energiemanagementsystem steuert die Beleuchtungszeit und -stärke individuell nach den Vorgaben des Anwenders, nutzt die durch die eingebaute Wettervorhersage gestellte Ertragsprognose und übernimmt außerdem die Laderegelung und Speicherpflege. Desweiteren ermöglichen spezielle elektronische Vorschaltgeräte den Einsatz der hocheffizienten Natriumdampf-Niederdrucklampen und eine Temperaturregelung des Leuchtmittels. Es besteht ein besonderer Diebstahlschutz durch den hohen Wiedererkennungswert des Sondersolarmoduls.

PD Dr. Peter Kiegeland vom Institut für Arbeitswissenschaft präsentiert ein Fahrverhaltens-Klassifikations-System (FKS), welches im Rahmen eines Forschungsprojektes der Bundesanstalt für Straßenwesen, das die Auswirkungen der Teilnahme an einem Fahrsicherheitstrainings untersucht, entwickelt wurde.
Das FKS ermöglicht es relativ zeitökonomisch, Verkehrsteilnehmer in großer Anzahl, mit hoher Präzision und weitestgehend frei von subjektiven Einflüssen zu beobachten und erleichtert so eine realitätsgerechte Analyse und Bewertung des Fahrverhaltens.
Die Fahrverhaltensbeobachtungen werden im realen Verkehrsumfeld in einem speziellen Meßfahrzeug vorgenommen. Einbezogen werden Daten aus den Bereichen Fahrzeugbetätigung/ Fahrphysik, Verkehrspsychologie und der Physiologie. Außerdem werden die Meßfahrten durch ein Drei-Kamera-System dokumentiert. Die Auswertung der gewonnenen Daten erfolgt EDV gestützt, wobei sich die Qualität der Beurteilung insbesondere durch die Möglichkeit der wiederholten Wiedergabe von besonders relevanten Situationen verbessert.

Im Fachgebiet Experimentalphysik unter der Leitung von Prof. Dr. Klaus Röll wurden zwei Exponate entwickelt.
Bei der Magneto-optische Datenspeicherung werden Daten magnetisch gespeichert und optisch ausgelesen. Das Exponat von Dipl.-Phys. Stephan Knappmann aus der Arbeitsgruppe zeigt Bilder von magnetischen Strukturen, die mit Hilfe eines eigens dafür entwickelten Kerr Mikroskops aufgenommen wurden. Hiermit können Informationen in Form von Magnetisierung gespeichert und gleichzeitig mit einem Laser gelesen, d.h. abgebildet werden. Bei den Bildern handelt es sich einerseits um natürliche (magnetische) Domänenstrukturen und andererseits um künstlich erzeugte Strukturen, die gespeicherte Informationen enthalten können. Ziel der Arbeit ist es, durch Kopplung von Schichten Schichtsysteme zu entwickeln, die eine deutliche Verbesserung des Speichermediums bezüglich Geschwindigkeit und Speicherdichte versprechen. Die Funktionsfähigkeit der Schichtsysteme kann mit dem Kerr Mikroskop überprüft werden.

Dipl.-Phys. Frank Hubenthal, wissenschaftlicher Mitarbeiter der Arbeitsgruppe, stellt ein Interferometrisches Meßsystem für mechanische Spannungen in dünnen Schichten, wie z. B. Beschichtungen von Verschleißteilen, vor. Mit einem Drei-Step-Michelson-Interferometer wird durch den Laser ein für den jeweiligen Spannungszustand der Schicht typisches Überlagerungsmuster (Interferenzmuster) erzeugt. Bei einem Durchlauf wird dieser Vorgang phasenverschoben dreimal wiederholt, die Daten werden elektronisch gespeichert und die Oberflächentopographie der Schicht durch einen Algorithmus berechnet.

Mit diesem Verfahren lassen sich Druck- und Zugspannungen in dünnen Schichten ermitteln und repräsentieren, ohne Informationen über das Schichtmaterial selbst zu haben. Ein weiterer Vorteil liegt in der einfachen Handhabung des Meßsystems, seinem großen Meßbereich und in seiner Anwendbarkeit auf extrem dünne Schichten (< 25nm).

Weitere Informationen:
Technologie- und Innovationsberatung
Klaus Lekies
Tel. 0561/ 804 2498, Fax: 0561/ 804 2326
e-mail: lekies@hrz.uni-kassel.de
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