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SIMS Europa 2000 in Münster

13.09.2000 - (idw) Westfaelische Wilhelms-Universität Münster

Das Physikalische Institut der Universität Münster veranstaltet vom 17. bis19. September 2000 zum vierten Mal eine internationale SIMS-Konferenz. SIMS steht für Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie. Es handelt sich dabei um ein besonders leistungsfähiges modernes Verfahren zur Oberflächenanalyse, das im Arbeitskreis von Prof. Dr. Alfred Benninghoven im Fachbereich Physik der Westfälischen Wilhelms-Universität entwickelt wurde. Es ist heute ein universelles Analyseverfahren mit einem besonders breiten Einsatz in der Mikroelektronik und der Chemie, sowie großen Entwicklungspotenzialen in der Bio-, Medizin- und Nanotechnologie.

Münster wird international als das weltweit führende Kompetenzzentrum für SIMS anerkannt. Dies ist zum einen auf die vielfältigen Aktivitäten der Universität auf diesem Gebiet zurückzuführen einmal aufgrund der vielfältigen SIMS-Aktivitäten an der Universität, seit kurzem aber auch auf die internationalen Erfolge der Firma ION-TOF, einer vor mehr als zehn Jahren erfolgten Ausgründung aus der Universität.

Für die "SIMS Europe 2000" werden in Münster 200 Teilnehmer erwartet. Viele von ihnen werden bereits am Sonntag, 17. September 2000, in der Institutsgruppe I an einem Fortbildungskurs für SIMS-Anwender teilnehmen. Das eigentliche wissenschaftliche Programm der Tagung beginnt am Montag und behandelt neben zahlreichen Fragen der Grundlagenforschung, der Geräteentwicklung und der analytischen Anwendung in einer Diskussionsveranstaltung am Montagnachmittag das Thema "Bio- und Nanotechnologie, eine neue Herausforderung für die Sekundärionen-Massenspektrometrie". Die Konferenzsprache ist Englisch. Tagungsort ist die Institutsgruppe I der Universität am Coesfelder Kreuz.

Nähere Informationen bei Prof. Dr. Alfred Benninghoven, Tel. 0251/980-1661, Fax 0251/980-1663, Internet: www.ion-tof.com, Email Wally.Pollmann@ion-tof.com
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