Recherchieren in Patent- und Markendatenbanken, 20. bis 22. November 2001 in Karlsruhe

Fortbildungsseminar

Ewerblicher Rechtsschutz ist sehr wichtig, um eigene Ideen bzw. Produkte zu schützen. Vor Beginn einer Produktentwicklung sollte immer geprüft werden, ob nicht Patente oder Marken anderer Anmelder verletzt werden. Diese Information findet man ist zeitsparend und damit auch kostengünstig in Datenbanken. STN International bietet eine Vielzahl von Datenbanken an, in denen Hinweise auf weltweite Patente und Marken enthalten sind.

Das Fortbildungsseminar gibt eine Einführung in:

* Recherchieren in Datenbanken (allgemein)
* Patent- und Markendatenbanken - beim Host STN International und auf dem Internet
* Patentanalysen und -statistiken

Das Fortbildungsseminar steht unter der fachlichen Leitung von Dr. Claus-Dieter Siems, Fachinformationszentrum Karlsruhe.

Die Teilnehmerzahl ist mit Rücksicht auf den Lehrerfolg begrenzt.

Weitere Informationen erhalten Sie bei:

Deutsche Gesellschaft für Materialkunde e.V.,
Miriam Leonardy,
Hamburger Allee 26,
D-60486 Frankfurt,
Tel: 069-7917 759,
Fax: 069-7917 733,
e-Mail: presse@dgm.de

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