4. X-ray Forum am Institut für Elektronik-Technologie (16.-17. September 2004)

Das Institut für Aufbau- und Verbindungstechnik der Elektronik an der TU Dresden (Prof. Dr. Klaus-Jürgen Wolter) veranstaltet in Zusammenarbeit mit der phoenix|x-ray Systems und Services GmbH, Wunstorf, zum vierten Mal das Fachseminar "X-ray Forum".

Erneut konnten eine Reihe externer Dozenten aus Forschung und Industrie dazu gewonnen werden, neueste Entwicklungen in der Elektronik-Technologie im Zusammenhang mit der zerstörungsfreien Materialprüfung durch Röntgen darzustellen. Der thematische Schwerpunkt liegt in diesem Jahr auf der hochauflösenden 2D- und 3D-Röntgeninspektion in der Elektronik und Sensorik.
Im Anschluss an die Fachvorträge wird in den Labors des Zentrums für Mikrotechnische Produktion am Institut für Elektronik-Technologie die dort zur Verfügung stehende Produktions- und Prüftechnologie an Hand der Montage und Qualifikation einer Demonstrator-Baugruppe vorgeführt. Hier können die Teilnehmer unter anderem die Anwendungsmöglichkeiten von Ultraschallmikroskop und Laserprofilometer kennen lernen.

In einer parallel laufenden Ausstellung besteht die Möglichkeit, sich die neueste Röntgentechnik und Bewertungssoftware auch an eigenen Proben demonstrieren zu lassen.
Vertreter der Medien sind herzlich eingeladen, der Veranstaltung beizuwohnen.

Informationen für Journalisten: Dietmar Daniel, Tel. 0351 463-38625, E-Mail: daniel@zmt.et.tu-dresden.de
Ilka Döring, phoenix|x-ray Systems + Services GmbH, Tel. 0160 97845710, E-Mail: idoering@phoenix-xray.com

Programm:
10.00 Uhr Begrüßung durch Prof. Dr. K.-J. Wolter, Institut für Aufbau- und Verbindungstechnik der Elektronik, TU Dresden und Dr. Stefan Becker, phoenix|x-ray
10.15 Uhr "Sensortechnik: Moderne Entwicklungen und ausgewählte Anwendungen" Prof. G. Gerlach, Institut für Festkörperelektronik, TU Dresden
10.45 Uhr "Grundlagen und Anwendungen der hochauflösenden Computertomographie" Dr. H.-Roth, phoenix|x-ray GmbH, Stuttgart
11.15 Uhr Pause
11.45 Uhr "Limited-Angle-Tomographie als Alternative zur CT bei der Untersuchung elektronischer Flachbaugruppen" Dipl.-Ing. M. Speck, Institut für Aufbau- und Verbindungstechnik der Elektronik, TU Dresden
12.15 Uhr "Zerstörungsfreie Diagnostik an bleifreien Lötverbindungen" Prof. H.-J. Albrecht, Siemens AG, Berlin
13.00 Uhr Gemeinsames Mittagessen
14.00 Uhr Vorführungen in den Labors des Zentrums für Mikrotechnische Produktion, Demonstrationen an den Röntgensystemen
14.00 Uhr "Lötfehler im Röntgenbild", Dr. H. Roth, phoenix|x-ray GmbH, Stuttgart

Am 17. September besteht die Möglichkeit, im Rahmen eines Workshops eigene Proben untersuchen zu lassen.

Datum: 16. September 2003, Beginn: 10.00 Uhr
Veranstaltungsort: TU Dresden, Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik, Barkhausen-Bau, Haupteingang Helmholtzstraße, Hörsaal BAR 205, Mommsenstr. 13

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